BS 6072-1981 中文版 磁粉探伤方法导言0.1 基本原理　　磁粉探伤是基于对铁磁性材料的磁导率和缺陷的磁导率之间不连续变化的敏感性。当受检件被适当地磁化后，位于已磁化表面或近表面的取向有利的缺陷处，产生磁场畸变，从而形成局部漏磁场。当细磁粉施加在已磁化的受检件表面上后，则被漏磁场吸引而聚集在缺陷周围，从而探出缺陷。0.2 最佳缺陷方向

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